Презентація на тему: “Екперементальні визначення типу кристалічної решітки металу” (ID:1064836)

Для опису будови кристалічних речовин використовують метод зображення їх кристалічної решітки у просторі. Елементарна просторова решітка - це сітка, де вузли збігаються з положенням атомів, молекул або йонів у кристалі. Від кристалографічних осей та форми елементарної комірки визначають сингонію кристалів. Існує сім кристалографічних систем - сингоній: кубічна, гексагональна, тригональна, тетрагональна, ромбічна, моноклінна та триклінна. Гексагональна сингонія  Тип сингонії кристалічної ґратки, має в основі правильний шестикутник із атомом у центрі. Інша вісь перпендикулярна до основи. Утворюється при щільній упаковці сферичних куль. Система, що характеризується постійною присутністю однієї шестірної або потрійної осі симетрії. Кубічна сингонія - це один із типів кристалічної решітки, де атоми розташовані у формі кубів. У кристалічній решітці кожний атом знаходиться в точці решітки, яка називається вузлом. Параметр «а» - це розмір елементарної комірки Браве в кубічній сингонії. Він визначає відстань між центрами сусідніх атомів в решітці. Відстань «d” між частинками в елементарній комірці Браве можна визначити зі співвідношення: d = a / √2 Таким чином, відстань між частинками в елементарній комірці Браве кубічної сингонії дорівнює значенню параметру «а», розділеному на корінь з двох.